Ushbu taqdimot Fotoelektron Spektroskopiyasi (FES/PES) va Rentgeno Fotoelektron Spektroskopiyasi (XPS/RFS)ning asosiy printsiplari, energiya diapazonlari (10–1000 eV FES uchun, 1000–10000 eV RFS uchun), chuqurlik profili va namunalarni tahlil qilish usullari haqida. Stockholmdagi dasturiy ta’minot va ma’lumotlar bazalari yordamida elementlarning kimyoviy holatini aniqlash, O‘zbekiston ilmiy markazlarida yarim o‘tkazgichlar va metallarning sirt xossalarini tadqiq etish hamda Texas va Germaniyada o‘tkazilgan misollar keltiriladi.